FLIM系統構成

TCSPC FLIM原理

熒光壽命與FLIM技術

熒光壽命是指分子在單線激發態所平均停留的時間。它不僅與物質自身的結構有關，而且與其所處微環境的極性、粘度等條件有關，因此通過熒光壽命測定可以直接了解物質及所在體系發生的變化。熒光現象多發生在納秒級，正好是分子運動的時間尺度，因此測量熒光壽命可以“看”到許多復雜的分子間作用過程，例如超分子體系中分子間的簇集，固液界面上吸附態高分子的構象重排、蛋白質高級結構的變化等。由于熒光壽命是所研究系統的固有特性，與細胞內各處熒光探針的局部濃度無關，且不受光漂白和散射的影響，與熒光成像相比有更多優勢。

FLIM-熒光壽命成像顯微，是將熒光壽命測量與激光掃描共聚焦顯微鏡等樣品掃描技術相結合的成像技術，通過掃描可以得到樣品各空間點熒光強度隨時間變化情況。

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FLIM應用

?bh公司不只是將FLIM考慮成一種增加顯微圖像額外對比度的方法，更是將其考慮及設計為一種分子成像技術：bh FLIM技術利用了熒光團的熒光衰減函數是其分子環境的指標，以及多指數衰減分析提供了分子信息的特性，例如活細胞和組織的代謝狀態，蛋白質構象和蛋白質相互作用，細胞對藥物和環境參數的反應，以及癌癥發生和進展的機制等。